對(duì)于葉面積指數(shù)的測(cè)量，目前常見的方式有兩種，分別是直接測(cè)量和間接測(cè)量，直接測(cè)量法樹木解析法如稱重法、葉面積測(cè)量?jī)x等已成功地應(yīng)用在農(nóng)業(yè)系統(tǒng)中。落葉收集法對(duì)四季分明的落葉樹種非常合適,但對(duì)那些常綠樹種就無用了。點(diǎn)接觸法是通過用一頭尖的細(xì)棒以不同的頂角和方位角插入植冠,然后記錄細(xì)棒從冠層頂部到底部的過程中跟棒尖相接觸的葉片數(shù)目來計(jì)算葉面積指數(shù)。此方法對(duì)于高大的林木和葉子高度密集的針葉林是不實(shí)際的。
間接測(cè)量法，光學(xué)儀器葉面積測(cè)量?jī)x可以快速地進(jìn)行大面積測(cè)量,不破壞林木,節(jié)省人力物力,但也各有利弊。除TRAC外的測(cè)量?jī)x都是假設(shè)葉片在空間的分布是隨機(jī)的,不考慮葉片的集聚效應(yīng),測(cè)出的是有效葉面積指數(shù)
儀器名稱：葉面積測(cè)量?jī)x
儀器型號(hào)：YMJ
葉面積測(cè)量?jī)x http://www.plant17.net/
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